Nuevas Directrices de Examen de la OEPM

La OEPM acaba de publicar las Directrices de Examen de todas las modalidades de invenciones (patentes, modelos de utilidad, topografías de semiconductores) y diseños. La publicación de este documento sigue el mandato legal que incorpora la nueva Ley de Patentes y recoge la evolución normativa que propició dicha norma, así como las novedades interpretativas del sector que se han producido en el ámbito judicial

Este documento, si bien no tiene carácter normativo con trascendencia a terceros, sí que constituye una herramienta clave, tanto para el ciudadano como para los profesionales, a la hora de entender los criterios de trabajo de la OEPM en el examen de las modalidades de protección afectadas. Un instrumento que debe aportar certeza y consistencia a todos los operadores del Sistema de Propiedad Industrial en España.

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